bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來佳的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現佳的靈敏度和穩定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設計，系統不僅具備佳的靈活性，還擁有zhuo越的性能。布魯克光學du一/無二的DigiTect™技術，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的最佳信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發現的太赫茲光譜范圍。

bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀

譜區擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區域。其預準直光學元件以及主動準直的UltraScan™干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c： 布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器。現在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

光學分辨率

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 標準配置提供優于 0.2cm-1的標點光譜分辨率，這足以進行大多數環境壓力氣相研究和室溫樣品測量。對于先進的低溫工作，例如在晶體半導體材料或低壓力下進行氣相測量，提供優于 0.06cm-1 的 PEAK 分辨率。這是使用商用臺式 FT-IR 光譜儀實現的最高光譜分辨率?？梢姽庾V范圍內的高分辨率光譜顯示分辨率（波數 + 除以光譜分辨率 ? +）更好的 300，000：1。

多功能

創新的光學設計使靈活性和拓展能力最佳的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統在中紅外、近紅外和遠紅外區域具有佳的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來成果，例如在低至 10-3 單層的納米科學研究領域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側、前側和左側布有5個光束輸出端口，右側和后側有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側輸入端口的同步輻射光源、右側輸出口的 PMA50 偏振調制附件、右前側端口的光纖耦合模塊、左前側的輻射熱測量計探測器以及左側輸出端口的 HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發應用的理想儀器。

全新附件： 布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發應用中，由于全新的遠紅外固態分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm-1 到5 cm-1左右的光譜范圍，并且能夠將中紅外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。

VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的端研究級儀器。其具創新的光學設計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜范圍、*的光譜和時間分辨率以及越的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統能夠通過其頂尖的技術，為所有端研究應用提供解決方案。

研究與開發

• 用于幅度/相位調制光譜的連續和步進掃描技術

• 用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術（步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）

• 對周期性有序微觀材料（即超材料）進行表征

• 用于氣體分析分辨率優于0.06 cm-1的高分辨率光譜

• 用于真空紅外光束裝置的系統化

• 酶催化實驗的停流方法

• 外接超高真空測量腔室

• 用于電極表面和電解質原位研究的FTIR 光譜電化學

制藥

• 測定分子的絕對構（VCD）

• 通過熱分析對藥物產品的穩定性和揮發物含量進行表征 (TGA-FTIR)

• 遠紅外譜區區分活性藥物成分多晶型

聚合物與化學

• 遠紅外譜區識別聚合物復合材料中的無機填料

• 聚合物動態和流變學研究

• 測定揮發性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

• 反應監測和反應控制 （中紅外光纖探頭）

• 識別無機礦物質和顏料

表面分析

• 薄膜和單分子層檢測與表征

• 結合偏振調制進行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科學

• 光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征

• 通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質和深度剖析

• 材料的發射行為表征

半導體

• 硅晶圓中氧和碳含量的測定

• 淺能級雜質的低溫透射和光致發光（PL）測量進行質量控制

外接附件、光源和檢測器

VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學系統。包括如下內容：

• 用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調制附件

• PL II 光致發光模塊

• RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡

• TGA-FT-IR 聯用

• HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡

• HYPERION 3000 FTIR 成像系統

• HTS-XT 高通量篩選eXTension

• IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件

• 外部樣品室XSA（真空或吹掃）

• 外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)

• 真空PL/PT/PR測量單元

• 低溫液氦或無低溫液體恒溫器

• 帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）

• 大型積分球

• 自動進樣器

• 外部遠紅外Hg燈光源

• 寬帶中紅外-遠紅外檢測器

• 固態遠紅外/太赫茲分束器

• 外部發射適配器

• 外部高性能中紅外光源

• 外部高性能可見光源

• 外部真空4位檢測器腔（用于真空光學系統）

• 適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計

• 自動分束器切換單元（BMS-c）（真空光學系統）