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: bruker納米壓痕儀應用范圍2024-12-19

bruker納米壓痕儀主要用于微納米尺度薄膜材料的硬度與楊氏模量測試，測試結果通過力與壓入深度的曲線計算得出，無需通過顯微鏡觀察壓痕面積.主要應用納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應力-應變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性?？蛇m用于有機或無機、軟質或硬質材料的檢測分......

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Copan WASP樣本前處理系統|產品介紹 2023-12-05

CopanWASP®是一臺集樣本前處理、平板接種劃線、革蘭染色涂片、抗生素紙片分配于一體的樣本前處理系統，可以為實驗室提供標準化解決方案的同時節約大量的人力物力資源。將帶您進入數字化細菌學的世界-它不僅僅是一個培養、存儲、數字化和記錄細菌接種平板的平臺。WASPLab®更是Copan實驗室全自動化的核心......

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爾迪有售|yamato功率半導體用陶瓷基板熱阻測試儀TE100 2023-11-29

yamato功率半導體用陶瓷基板熱阻測試儀TE100產品特點：·簡化了功率半導體用陶瓷基板的熱阻測試·熱阻測試方式的國際標準化(ISO4825-1:2023-01)·通過自研SiC芯片模擬功率器件的發熱·TEG芯片使用鉑金探頭，確保了溫度測量結果的精準與穩定·單個基板材料，以及模塊結構的熱阻都能夠測量使用范圍主要面向電......

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產品介紹|Bruker FilmTek 2000M TSV 橢偏儀 2023-11-23

Bruker橢偏儀FilmTek2000MTSV——用于半導體封裝應用中高通量測量的計量系統FilmTek™2000MTSV計量系統為半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統為各種封裝工藝和相關結構的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。高產......

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產品介紹|Bruker布魯克 JV-QCVelox 2023-11-21

Bruker布魯克JV-QCVelox產品概述Bruker’的JV-QCVelox是長期運行的JV-QC儀器中HRXRD。它是化合物半導體行業高分辨率X射線衍射的專用質量控制工具。它適用于表征所有常見的半導體襯底，包括Si、GaAs、InP、GaN等。測量可以部分或自動化運行，用戶可自定義的腳本處理日常工作。VeloM......

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