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Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD

Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD ——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產專用高分辨率 X 射線衍射系統

更新日期：2024-04-18訪問量：5869廠商性質：經銷商
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Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD

Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD ——X射線測量滿足您的研發需求 Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發和質量控制的新一代柔性 X 射線衍射儀器。該系統具有全自動源和檢測器光學元件以及水平樣品安裝，可以在*計算機/配方控制下在標準和高分辨率 X 射線衍射和 X 射線反射率模式之間切換，而無需手動更改配置。

更新日期：2024-04-18訪問量：3768廠商性質：經銷商
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Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀

Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX70v為要求嚴格的分析和研究應用提供了超高性能。具創新意義的設計成就了該系列譜儀佳的靈活性和越的性能。數據采集使用delta-sigma自激型數/模轉換器，該轉換器具備真正的24位ADC動態范圍。布魯克先進技術DigiTect將此數模轉換器與檢測器自帶的電子前置信號放大器整合到一起。

更新日期：2024-04-18訪問量：3205廠商性質：經銷商
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Bruker VERTEX 80/80v 傅立葉紅外光譜儀

bruker VERTEX 80/80v 傅立葉變換紅外光譜儀 VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來佳的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優質光學元件為儀器的極限靈敏度和穩定性提供了保證。

更新日期：2024-04-19訪問量：2067廠商性質：經銷商
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bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100

bruker布魯克三維光學輪廓儀ContourX-100 具備高性價比的 ContourX-100 光學輪廓儀為可重復的、非接觸式表面測量樹立了新基準。該系統占地面積小，所采用的簡化方案融合了布魯克幾十年的白光干涉（WLI）創新技術，具有強大的二維/三維高分辨測量能力

更新日期：2024-04-18訪問量：2198廠商性質：經銷商
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